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簡要描述:光電檢測實驗設(shè)備-光電成像基礎(chǔ)與應(yīng)用實訓(xùn)平臺包括CCD和CMOS兩大方面,這兩方面原理與應(yīng)用是《光電技術(shù)》和《圖像傳感器應(yīng)用技術(shù)》課程重要章節(jié),也是教學(xué)的難點章節(jié)。該平臺采用搭建式、開放式設(shè)計,直觀展現(xiàn)了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理,并且設(shè)置了工程實際檢測的相關(guān)實驗。
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一、產(chǎn)品介紹
光電檢測實驗設(shè)備-光電成像基礎(chǔ)與應(yīng)用實訓(xùn)平臺包括CCD和CMOS兩大方面,這兩方面原理與應(yīng)用是《光電技術(shù)》和《圖像傳感器應(yīng)用技術(shù)》課程重要章節(jié),也是教學(xué)的難點章節(jié),因此,monxyuan開發(fā)了光電檢測實驗設(shè)備-光電成像基礎(chǔ)與應(yīng)用實訓(xùn)平臺。該平臺采用搭建式、開放式設(shè)計,直觀展現(xiàn)了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理,并且設(shè)置了工程實際檢測的相關(guān)實驗。
二、教學(xué)目的
1、了解并掌握線/面陣CCD和CMOS的原理;
2、了解線/面陣CCD和CMOS的軟件使用方法;
3、了解并掌握面陣CCD和CMOS信號處理方法;
4、了解并掌握運用面陣CCD和CMOS進(jìn)行尺寸測量和圖像處理的方法;
5、了解并掌握學(xué)生掌握線陣CCD的幾種典型的應(yīng)用;
三、實驗內(nèi)容
1、面陣CCD 原理與驅(qū)動實驗;
2、面陣CCD 數(shù)據(jù)采集與計算機(jī)接口實驗;
3、面陣CCD 邊緣與輪廓檢測;
4、面陣CCD物體尺寸測量實驗;
5、面陣CCD 圖像的點運算;
6、面陣CCD 圖像的幾何變換;
7、面陣CCD 圖像采集與參數(shù)設(shè)置;
8、面陣CCD 投影與差影圖像分析;
9、面陣CCD 圖像的濾波與增強(qiáng);
10、面陣CCD 形態(tài)學(xué)處理;
11、面陣CCD 旋轉(zhuǎn)與縮放;
12、面陣CCD 顏色識別與變換;
13、面陣CCD圖像采集程序設(shè)計;
14、線陣CCD 工作原理與驅(qū)動波形觀測;
15、線陣CCD 模擬輸出信號的調(diào)整;
16、通過采集卡對線陣CCD的模擬輸出信號進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)采集;
17、通過軟件浮動閾值對CCD的輸出信號進(jìn)行二值化處理;
18、利用線陣CCD 對物體尺寸進(jìn)行非接觸的實時測量;
19、利用線陣CCD 對物體的角度進(jìn)行測量;
20、利用線陣CCD 測量物體的振動;
21、利用線陣CCD識別一維條形碼;
22、利用線陣CCD掃描物體的二維圖像;
23、利用外置相機(jī)進(jìn)行實物尺寸測量
24、用硬件提取邊緣信號的二值化
25、CMOS原理與驅(qū)動實驗;
26、CMOS數(shù)據(jù)采集實驗;
27、CMOS圖像采集程序設(shè)計
28、CMOS用于邊緣與輪廓檢測實驗;
29、CMOS用于物體的尺寸測量實驗;
30、CMOS用于圖像采集與參數(shù)設(shè)置實驗;
31、CMOS用于投影與差影圖像分析實驗;
32、CMOS用于圖像的濾波與增強(qiáng)實驗;
33、CMOS用于顏色識別與變換實驗;
34、擴(kuò)展性實驗
(1)通過提供的CPLD程序,學(xué)生可以了解CPLD對外圍器件的控制;
(2)有能力的學(xué)生還可以自己編程來產(chǎn)生方波;
(3)通過提供的SDK和DEMO程序,編寫程序來采集擴(kuò)展相機(jī)的數(shù)字信號;
(4)利用擴(kuò)展相機(jī)并編寫軟件進(jìn)行其他如尺寸測量等實驗等;
36、墨水屏不同工作狀態(tài)的功耗測量實驗;
37、墨水屏驅(qū)動顯示實驗;
38、手勢控制墨水屏翻頁實驗;
四、配套文件資料
1、實驗指導(dǎo)書1本;
2、實驗軟件1套;
客戶自行配置電腦及示波器
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